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Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen 🔍
Hans-Joachim Wunderlich (auth.) Springer-Verlag Berlin Heidelberg, Informatik-Fachberichte, Informatik-Fachberichte 140, 1, 1987
德语 [de] · PDF · 4.1MB · 1987 · 📘 非小说类图书 · 🚀/lgli/lgrs/nexusstc/zlib · Save
描述
Die Arbeit behandelt den Selbsttext hochintegrierter digitaler Schaltungen mit zufällig erzeugten Mustern. Es wird ein neues Verfahren vorgestellt, um die Wahrscheinlichkeit abzuschätzen, mit der ein Fehler durch ein zufällig erzeugtes Muster erkannt wird, und um darauf aufbauend die notwendige Zahl von Zufallsmustern zu bestimmen. Beim konventionellen Zufallstest benötigen viele Schaltungen unwirtschaftlich große Mustermengen. Um dieses Problem zu lösen, wird eine Methode vorgeschlagen, für Zufallsmuster solche optimalen Verteilungen zu bestimmen, die eine besonders hohe Fehlererfassung erwarten lassen. In vielen Fällen kann so die nötige Musterzahl um mehrere Größenordnungen gesenkt werden. Zur Ausführung eines einfachen Selbsttests wird ein Modul vorgestellt, der auf dem Chip integriert werden kann und im Testmodus die Muster mit den geforderten Verteilungen erzeugt. Der Mehraufwand an Schaltelementen für den Selbsttest mit optimierten Zufallsmustern ist mit dem herkömmlichen Zufallstest vergleichbar. Aufgrund der behandelten Verfahren kann daher die Klasse der Schaltungen vergrößert werden, die mit Zufallsmustern selbsttestbar sind, ohne daß signifikante Mehrkosten anfallen.
Erscheinungsdatum: 12.08.1987
备用文件名
lgrsnf/A:\compressed\10.1007%2F978-3-642-72838-9.pdf
备用文件名
nexusstc/Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen/55f831233a171f0367ca21da66900ba9.pdf
备用文件名
zlib/Engineering/Hans-Joachim Wunderlich (auth.)/Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen_2110415.pdf
备选标题
Probabilistische Verfahren für den Test hochintegrierter Schaltungen : (als Diss. der Univ. Karlsruhe: Probabilistische Verfahren zur Verbesserung der Testbarkeit synthetisierter digitaler Schaltungen)
备用出版商
Spektrum Akademischer Verlag. in Springer-Verlag GmbH
备用出版商
Springer Spektrum. in Springer-Verlag GmbH
备用出版商
Steinkopff. in Springer-Verlag GmbH
备用版本
Informatik-Fachberichte, Berlin, Heidelberg, Germany, 1987
备用版本
Informatik-Fachberichte, 140, Berlin etc, 1987
备用版本
Springer Nature, Berlin, Heidelberg, 2013
备用版本
Germany, Germany
元数据中的注释
lg956516
元数据中的注释
{"container_title":"Informatik-Fachberichte","edition":"1","isbns":["3540180729","3642728383","9783540180722","9783642728389"],"issns":["0343-3005"],"last_page":133,"publisher":"Springer","series":"Informatik-Fachberichte 140"}
元数据中的注释
Lizenzpflichtig
Langzeitarchivierung gewährleistet LZA
备用描述
Front Matter....Pages N2-XII
Einleitung....Pages 1-4
Das Testproblem für integrierte Schaltungen....Pages 5-32
Grundlagen. Definitionen und Vorarbeiten....Pages 33-47
Fehlerentdeckungs- und Signalwahrscheinlichkeiten....Pages 48-64
Die Bestimmung effizienter Zufallstests....Pages 65-81
Anwendungen bei Test- und Synthese-Algorithmen....Pages 82-99
Praktische Ergebnisse....Pages 100-109
Back Matter....Pages 110-137
开源日期
2013-08-01
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